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n 特长: l 利用特殊的半透半反镜(专利),将来自试料的反射光有效的读入分光器中,即使是低反射试料,也能够测量。 l 特殊的半透半反镜能够阻止内部的反射光,所以能够正确的测量。 l 512素子的线性PDA、16bit A/D转换器内置。 使用USB2.0接口高速演算。 l 从光纤到缝隙的集光系统和调整机构,可以最大限度的提高光量的利用率、测量速度、再现性高。 l 因为与试料面的微小点(φ50μm)相连接,所以镜片曲面以及镀膜层也能测量。 n 产品参数 测量波长 | 350nm~800nm(或红外380nm~1100nm) | 测量范围 | 0.12(使用10x物镜时) | 曲率半径 | 大约φ50μm(使用10x物镜时) | 测量再现性 | -1R~-∞,+1R~∞ | 表示分解能 | 1nm | 测量时间 | 数妙~十几秒(根据抽查时间不同而不同) | 外径尺寸 | 250(W)×480(D)×520(H)mm |
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